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电子工程世界|泰克教你如何进行GaN、SiC设计优化验证( 二 )


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松下项目团队一直在努力探索GaN器件的高速开关性能 ， 消除寄生电容的影响 。 前期使用传统差分探头进行测量没有得到预期结果 ， 波形还会随着探头接入位置不同而明显变化 ， 因此无法进行可重复测量 。 考虑到这些测试挑战 ， 他们一直使用既耗时又复杂的手动方式 ， 主要是估算高侧电路故障 。 很显然他们需要一种方式把共模电压与关注的差分信号隔离开 ， 这就需要一种新型探头技术 ， 在高侧电路上直接进行测试 。
由于采用创新的光隔离技术 ， IsoVu探头在被测器件和示波器之间实现了全面电流隔离 。 IsoVu在100MHz以下时提供了1000000:1的共模抑制比 ， 在1GHz以下时提供10000:1的共模抑制比 ， 且在频率提高时其额定值不会下降 。 它提供了1GHz带宽和2000V额定共模电压 ， 这种性能组合使得半桥测量成为可能 。 利用泰克示波器和IsoVu探头现在能够直接观测高侧栅极电压波形 ， 获得了成功开发所需的测量洞察能力 。
与其他探头不同 ， IsoVu采用光电传感器 ， 把输入信号转换成光调制 ， 在电气上把被测器件与示波器隔离 。 IsoVu采用4个单独的激光器、一个光传感器、5条光纤及完善的反馈和控制技术 。 IsoVu结构及电流隔离技术在整个频率范围内提供了>2000V peak的耐受电压 。 IsoVu光隔离解决方案可以支持几千伏的电压上线 。
泰克从1946年成立至今70多年的历史 ， 示波器及其电压电流探头的可靠性与稳定性一直是业界公认的选择 ， 示波器是电源设计最常用的仪器 ， 主要用于进行电源设计验证 ， 一般要对输入输出电压或电流的波形进行测试 ， 判定其频率、幅值或相位是否与设计相符合 。
泰克为电源原型版设计及调试提供全方位解决方案 ， 除了文中宽禁带半导体SiC和GaN设计测试与优化 ， 还包括MOSFET/IGBT开关损耗、磁性器件损耗、环路响应优化、输出纹波测试等 。 为帮助设计工程师厘清设计过程中的诸多细节问题 ， 泰克与电源行业专家携手推出“氮化镓电源设计从入门到精通“8节系列直播课 ， 从0到1全面解密电源设计 ， 包括元器件选型、电路设计和PCB布线、电路测试和优化技巧、磁性元器件的设计和优化、环路分析和优化、能效分析和优化、EMC优化和整改技巧、可靠性评估和分析 。


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