「智东西」Nature:1纳米芯片将成可能,台积电研制世界最薄二维半导体材料( 二 )


「智东西」Nature:1纳米芯片将成可能,台积电研制世界最薄二维半导体材料
本文插图
▲Cu(111)在c-plane蓝宝石基底上的晶格取向
实现单取向hBN三角形薄片的生长是获得晶圆级单晶hBN的重要步骤 。 由于Cu(111)的六重对称性 , hBN与Cu(111)的范德华配准导致了两组能量最小的构型(其取向相差60°或180°) , 且结合能几乎是简并的 。 因此 , 通常认为将hBN薄片限制在这种高对称性表面上是单向的是不可能的 。 但作者实验表明 , 在自发存在的顶层Cu台阶边缘的存在下 , 可以消除能量简并性 。 hBN单层的生长是通过在热壁化学气相沉积(CVD)炉中将氨硼烷前体流到1英寸单晶Cu(111)薄膜/蓝宝石上来进行的 。
在具有双晶的Cu(111)薄膜上生长的单层hBN三角形薄片的光学显微照片(图2a)显示 , hBN薄片在一个孪晶上朝向相同的方向 , 并且在相反的方向(或沿60°平面内旋转)取向配对双胞胎上的“ z轴”(扩展数据 , 图2) 。 图2b显示了在没有双晶粒的单晶Cu(111)薄膜上生长的hBN薄片的光学显微照片 , 其中几乎所有三角形都是单向排列的(另请参见图3的扩展数据以获取hBN取向分布的统计分析)三角形薄片) 。 对单个单晶Cu(111)晶粒的单向观察清楚表明 , 存在能量最小的hBN-Cu(111)构型 。 因此 , 消除Cu(111)中的孪晶晶粒将确保在其上生长出单晶hBN 。
为了验证单结晶度 , 我们使用微点低能电子衍射(μ-LEED)在一个1英寸晶圆上的80个位置使用约3μm的探针大小来表征从单向三角形融合的hBN单层 。 图2c显示了来自九个随机选择位点的μ-LEED模式 。 所有结果表明 , hBN单层与Cu(111)表面单向对齐 , 表明它们的单晶性严格遵循Cu(111)晶格 。 图2d中hBN在Cu(111)上的原子分辨扫描隧道显微镜(STM)图像显示了完美的hBN晶格 , 测得的晶格常数为2.50±0.1? 。 作者探查了20多个位置 , 所有STM图像均显示了相同的hBN晶格取向 。 作者没有观察到由相邻的取向错误的hBN域形成的任何晶界 , 表明hBN的单晶性质 。
在某些区域 , 莫尔条纹是由于hBN与下面的Cu(111)衬底之间的晶格失配和/或相对较小的旋转(在1.5°内)引起的 。 莫尔边界区域的放大原子分辨率图像显示 , hBN在斑块边界处表现出完美的晶格相干性 , 表明莫尔图案的形成不会影响整体hBN取向 。 作者认为 , hBN在高温下完成了单晶生长 , 并且在生长后与样品冷却相关的应变导致形成了局部莫尔条纹 。 其他特征 , 包括X射线光电子能谱(XPS)和拉曼光谱 , 证明了B–N化学键结构(图2e , f) 。 透射电子显微镜(TEM)和原子力显微镜(AFM)的图像一致显示 , 这种生长出的hBN确实是单层的(图2g , h) 。

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▲单晶hBN在Cu(111)膜上的生长和原子结构
作者发现 , 在1,050 ℃下制备出Cu(111)薄膜 , 即可在995 C至1,070 ℃的各种生长温度下实现hBN薄片的单取向生长 。 但是 , 较低的生长温度(995 C至1,010 ℃)通常会导致质量较低的hBN薄片 , 随后在150 ℃的空气中进行氧化测试时 , 这些薄片很容易被氧化 。 因此 , 作者使用了更高的生长温度(通常为1,050 ℃)来确保高质量的单晶hBN生长 。
为了解释hBN在Cu(111)上的优选取向 , 作者考虑使用小的刚性B6N7分子(即在能量上有利的N端三环结构)作为探针种子 。 我们首先使用密度泛函理论(DFT)来计算平面对平面外延的影响 , 以计算六个典型原子堆叠构型的结合能(图3a) , 其中NIBIII , NIIIBII和NIIBI被定义为0°方向 , 而NIBII , NIIBIII和NIIIBI为60°(倒置)方向 。 NiBj表示第i层中的Cu原子(位于上方)与N原子的配准堆叠 , 而B原子与第j层的Cu原子配准 。 计算表明 , 在第一层Cu原子(NIBIII(0°)和NIBII(60°))上具有N原子的堆叠具有最低的能量 , 而在第一层Cu原子(NIIBI)之上的B原子(0°)和NIIIBI(60°))在能量上不利 。


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