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行业互联网|DDR5时代即将来临，泰克推出TekExpress DDR5发射机解决方案


【行业互联网|DDR5时代即将来临，泰克推出TekExpress DDR5发射机解决方案】泰克科技公司日前推出最新 TekExpress DDR5 发射机解决方案 ， 其改善了自动化程度 ， 工程师可以克服各种 DFE 所带来的分析挑战 ， 采用用户自定义采集和 DDR5 去嵌技术及串行数据链路分析(SDLA)技术 ， 满怀信心地、高效地验证和调试 DDR5 设计 。
从增强现实、人工智能到云计算和物联网 ， 5G 正在推动着各种新兴技术迅速增长 ， 人们对容量更高、速度更快、能耗更低、尺寸更小的嵌入式和计算机存储器的需求不断提高 ， DDR SRAM 也不断响应市场需求 ， 技术升级不断推陈出现 ， 这使得 DDR5 比以往任何时候都更重要 。 DDR5 内存时代即将到来 ， 频率更高、功耗更低、速度更快 ， 从入门级速度 4800MHz 到 5200/5600MHz ， 未来两年计算机、消费性产品市场将逐渐转从 DDR4 过渡至 DDR5 。
快速存取数量庞大的存储数据 ， 意味着复杂的设计正在挑战信号完整性极限 ， 要求性能更高的测量技术来完成一致性测试、调试和验证 。 TekExpress DDR5 发射机解决方案是一种系统级自动测试应用 ， 用户可以迅速、经济、可靠地验证和调试 DDR5 设计 ， 满足 JEDEC 中所规定的 50 多种电接口和时序测量 。

行业互联网|DDR5时代即将来临，泰克推出TekExpress DDR5发射机解决方案
本文插图

DFE 分析
DDR4 内容目前还是绝对主流 ， 但 DDR5 已经完成了规范开发 ， 当在存在符号间干扰(ISI)的情况下测试 DDR5 设计时 ， 即使 DDR3/4 的最佳调试工具也是不够用的 。 泰克 DDR5 系统级一致性测试软件提供了各种自动化工具 ， 克服了下一代 DDR 面临的各种挑战 ， 包括：
Rx DFE 均衡支持 ， 在 DDR5 业务中进行写入数据的眼图测量；
自动测量 JEDEC 中规定的 50 多种 DDR5 电接口和时序参数；
多种新算法 ， 一致可靠地区分读突发和写突发；
全新一致性测试应用架构 ， 增强了自动化程度 ， 缩短了测试时间 ， 帮助更快地把设计推向市场 。
调试和验证
TekExpress DDR5 发射机解决方案把控制能力还到了工程师手中 ， 它拥有用户自定义采集模式 ， 可以量身定制示波器设置 ， 包括采样率、记录长度、带宽等 ， 来运行 DDR5 JEDEC 一致性测量 。
泰克独立式 DDR5 DFE 应用可以整体控制 DFE 增益和 4 抽头值 ， 工程师可以运行内部测试计划 ， 执行测量关联仿真 ， 通过改变 4 抽头值和增益值 ， 微调仿真模型 ， 进行假设分析 。
SDLA
在对 DDR5 设计进行去嵌时 ， S 参数的验证通常是工程师担心的主要问题 。 通过改善无源性校验、端口分配和绘图功能 ， 串行数据链路分析(SDLA)技术增强了对 S 参数文件的验证 ， 改善了灵活性 ， 提高了对去嵌流程的信心 ， 节省了时间 。 其他的调试软件工具要求用户在完成整个流程后才能得到结果 ， 而 TekExpress DDR5 发射机解决方案则不同 ， 用户可以提前检测到问题 ， 更高效地调试和优化设计 。


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