CAF的原理与解决方案( 二 )

  •  STEP 2 则已出现了铜腐蚀的水解反应,并形成了铜盐的沉积物,已到达不可逆反应,其反应式如下:

  • CAF的原理与解决方案

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    离子迁移的图示
    CAF的原理与解决方案

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    离子迁移(ECM/SIR/CAF)的要因分析与解决方案
    • 从设计方面:
    • 越小的距离(孔~孔、线~线、层~层、孔~线间)越易造成离子迁移现象;
    解决方案:结合制程能力与材料能力,优化设计方案;(当然重点还是必须符合客户要求)
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    • 玻纤纱束与孔排列的方向;纱束与孔的方向一致时,会造成离子迁移的可能性最大;
    解决方案:尽可能避免或减少纱束与孔排列一致的可能性,但此项受客户产品设计的制约;
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    • 产品的防湿保护设计;
    解决方案:选择最优的防湿设计,如涉及海运,建议采用PE袋或铝箔袋包装方式;
    • 从材料方面:
    • 树脂与玻纤纱束之间结合力不足;
    解决方案:优化CCL制作参数;选择抗分层的材料 ;
    • 填充空洞或树脂奶油层不足;
    解决方案:优化CCL制作参数;选择抗分层的材料 ;
    • 树脂吸温性差;
    解决方案:胶片与基板中的硬化剂由Dicy改为PN以减少吸水;
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    • 树脂与玻纤清洁度差(含离子成份);
    解决方案:使用Anti-CAF的材料;
    • 铜箔铜芽较长,易造成离子迁移;
    解决方案:选用Low profile copper foil;
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    • 从制程生产条件压合:
    • 压合空洞;
    解决方案:优化压合作业参数;选择含胶量合适的PP;
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    • 压合分层;
    解决方案:优化压合程式;
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    • 从制程生产条件钻孔:
    • 钻孔孔偏;
    解决方案:优化钻孔作业参数;选择稳定佳的机台钻孔(CPK>=1.67);使用Hole AOI进行品质监控;
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    • 密集孔区域钻孔造成玻纤与树脂间产生间隙(Gap);
    解决方案:优化钻孔程式;如下图说明:
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    • 钻孔粗糙度大易造成灯芯效应;
    解决方案:优化钻孔作业参数(降低叠板数,优化钻孔程式等);
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    • 从制程生产条件电镀:
    • 除胶渣过度造成灯芯效应;
    解决方案:优化除胶渣参数;针对不同的基材使用不同的De-smear程式;
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    • 从制程生产条件其它:
    • 表面清洗不净(防焊前处理);
    解决方案:防焊前处理使用去离子水清洁(有条件时可以使用清洗剂);监控板面离子污染度;
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    • 多次高温处理;
    解决方案:禁止防焊退洗重工;禁止喷锡重工;
    ECM/SIR/CAF失效案例分析
    • 案例A:
    • 基板空洞;

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    可能原因:
    • 密集孔区域钻孔异常;
    • 板材异常(含浸制程异常);
    • 多次重工(热处理);
    • 板材吸湿;
    解决方案: