『技术』大硅片国产替代序幕已开启( 二 )
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在直拉单晶生长过程中需要添加不同元素以满足不同需求 。 为满足不同器件制备的要 求 , 在晶体生长时需要掺入微量电学性的杂质(掺杂剂) 。 其中 P 型半导体 , 硼(B) 是最常用的掺杂剂;而对于 N 型半导体 , 磷(P)、砷(As)和锑(Sb)都可以作为掺 杂剂 。 除掺杂剂外 , 一般情况下在直拉过程中需要避免杂质引入 , 否则将影响单晶硅、 器件的性能和质量 。 由于单晶硅生长情况对于硅片生产影响较大 , 所以单晶硅生长技术 在硅片生产中是关键技术之一 。
总结:单晶锭是硅片生产原料 , 目前生产单晶锭以直拉法为主 。 在生产过程中通过添加 不同的掺杂剂以制备具有不同性能的半导体 , 但需要对其他杂质进行严格管控 , 否则成 品质量将受到影响 。 所以 , 单晶硅生长技术在硅片生产中是关键技术之一 。
从“锭”到“片”
硅片制造工艺实现从“锭”到“片”转换 。 当完成单晶硅生长工艺后 , 需要通过硅片制造技术来实现硅片生产 。 根据生产流程 , 单晶硅锭需要通过切断、切片、研磨、抛光、 清洗五大步骤从而得到抛光硅片 。 其中 , 通过切断得到适合切片的晶棒;切片是将晶棒 切成具有一定厚度和平整度的硅片;研磨工艺 , 可去除硅片切片表面残留的损伤层 , 并使硅片具有一定的几何精度;抛光工艺 , 通过化学和机械作用 , 去除硅片表面残留的微 缺陷和损伤层 , 获得硅抛光片;硅片清洗是去除硅片表面各种沾污 。 通过这一系列加工 工艺后 , 可得到抛光硅片 。
通过对抛光硅片进行特定工艺处理可得到具有特殊性能硅片 。 抛光硅片是目前应用范围 最广、最基础的硅片 , 以抛光片为基础进行二次加工可得到具有特殊性能的硅片 。 退火片制作工艺是一个升温再降温的过程 , 通过将抛光片置于氢或氩气中加热 , 随即进入到 退火过程 。 与抛光片相比 , 其表面含氧量大幅减少 , 从而拥有更好的晶体完整性 。 外延 片通常采用化学气相沉积(CVD)技术 , 反应原理为硅的气态化合物在硅片表面发生反 应 , 并以单晶薄膜的形态沉积在硅衬底表面 。 SOI 硅片具有三层结构 , 自上而下分别为 顶层硅片(SOI 层)、氧化层和硅衬底;目前 , 氢注入剥离键合技术(Smart-Cut)、硅 片直接键合技术(SDB)和注氧隔离技术(SIMOX)是三个最具有竞争力的 SOI 制备技术;由于 SOI 硅片具有氧化层 , 从而减少硅片的寄生电容以及漏电现象 。 具有特殊性能的硅 片能满足不同应用场景需求 , 是半导体产业中不可或缺的一部分 。
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半导体硅片持续进化 由于抛光片是应用最为广泛的硅片 , 所以下文均以抛光片为讨论主体 。
硅片向大尺寸迭代
大硅片成为发展趋势 。 随着单晶硅制造技术提升 , 硅片的尺寸在逐步提升 。 硅片尺寸从 最初 2 英寸 , 到 4 英寸 , 5 英寸 , 6 英寸 , 8 英寸 , 再到 12 英寸 , 其尺寸在持续增加 。 目前 , 硅片发展史具有多种表述 。 其中 , 据 SEMI 相关产品数据 , 4 英寸硅片产生于 1986 年 , 6 英寸产生于 1992 年 , 8 英寸产生于 1997 , 12 英寸产生于 2005 年 。 而行业内根据 各尺寸硅片市场占比情况进行划分 , 4 英寸、6 英寸和 8 英寸分别为 1980 年代、1990 年 代和 2000 年代占据主流位置;而 12 英寸硅片产线是英特尔和 IBM 于 2002 年首先建成 ,而到 2005 年 12 英寸产品市场占比达到 20%且市场占比持续增大 。 根据硅片发展路径 , 大尺寸硅片将是行业发展趋势 。
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