半导体行业观察■Chiplet最强科普( 六 )


这种差异是显著的 , 因为硅中间层带来高成本 , 高制造复杂性和产量损失 。 设计和制作2.5D硅中介层封装的NRE成本很容易达到100万美元甚至更高 , 每个芯片的生产组装成本接近100美元 。 相比之下 , 设计和制造MCM组件的NRE成本仅为100万美元的一小部分 , 每个芯片的生产组装成本也远低于100美元 。 从经济上讲 , 摆脱硅中间层并回到传统的MCM封装具有很大的好处 。
使用有机基板就像使用传统PCB一样 。 PCB和有机基板都是通过使用传统的蚀刻工艺制造的 , 而传统的蚀刻工艺不依赖于半导体制造设备的使用 , 而硅中介层为了实现精细间距而需要使用半导体制造设备 。
封装尺寸是第二个需要考虑的问题 , 它主要由组件的总裸片尺寸决定 。 在翘曲和热膨胀问题达到极限之前 , 球栅阵列(BGA)封装可以可靠地达到75mm x 75mm的尺寸 。 BGA封装可以焊接或安装在插座上 。 栅格阵列(LGA)插座 , 可达到110mm x 110mm的大小 。 LGA插槽包括一个微小的叶弹簧 , 允许发生一些翘曲和膨胀 。 TE Connectivity拥有一个名为XLA sockets的LGA产品线 , 该产品线不仅提供了这种能力 , 还保证了良好的SerDes信号完整性 , 可以轻松地处理56G SerDes和112G SerDes 。 110mm x 110mm是一块大吐司的尺寸 , 可以容纳很多功能 。
传统上 , 标准硅中介层仅限于光罩尺寸 。 对于大多数使用的硅制造设备 , 该掩模版极限在32mm x 26mm的范围内 。 更高级的解决方案包括缝合多个光罩场以形成更大的硅中间层 , 或者仅在需要它们的区域使用较小的硅中介层(“硅桥”) 。
并行接口集成封装 并行接口 , 如AIB或HBM , 或提出的更通用的BoW接口方法 , 大大增加了可使用的封装技术的需求 。 BoW通常比串行解决方案具有更慢的信号速度 , 但芯片之间的互连明显更多 。 根据芯片之间需要支持的带宽大小 , 可以选择不同的封装技术:

  • 对于芯片之间的低到中带宽要求 , 可以使用相同的FC-BGA基板技术 , 但需要增加的是较小的线缆 , 而SerDes信号使用的是较大的线缆(20um线/空间) 。
  • 对于高带宽应用 , 信号线的数量需要最大化 , 因此线路和空间需要进一步大幅缩小 。 可以打印的最小几何图形总是在硅上 , 因此2.5D(或其他基于硅的技术 , 如EMIB)可以提供非常高的带宽密度 。 在实现显著的好处的同时 , 使用硅作为封装互连媒体也会导致复杂和昂贵的封装解决方案 。
  • 目前正在开发的一些新技术针对的是“中间空间”——这种解决方案成本更低 , 但仍然能够实现非常高的互连密度 。 这些解决方案包括在常规层(“2.1D”)的基础上加工额外的细间距层的有机层合板 , 以及一些新的晶圆级扇出技术 , 旨在实现HBM要求的类似布线密度 。
SerDes集成封装 USR SerDes互连技术的发展大大减少了半导体芯片之间通信所需的I/O总数 。 它允许有机基质提供裸片之间的互连 , 使成熟的MCM技术再次为我们服务 。
传统的SerDes , 以及不断发展的XSR和USR Fempto SerDes都有一个共同的优势 , 即信号线数量更少(运行速度更快) 。 这使得一个相当标准的封装解决方案成为可能 , 例如FC-BGA 。 支持MCM集成的FC-BGA封装技术的主要新元素现在允许:
支持更大的封装尺寸:
? 对于32/28nm节点 , 有一种比较保守的看法是封装大于~55mm会导致卡片装配出现问题 。 这一观点在过去几年里有了显著的发展 , 70mm的封装已经投入生产 , 80-100mm的封装已经在许多公司的路线图中 。
支持超高速信号(如100G XSR)的电气要求:
? 需要在封装基板中使用低损耗的电介质 , 以便在将插入损耗保持在可接受水平的同时延长跟踪长度 。
高速信号 , 如来自USR或LR SerDes的信号 , 可以通过硅中间层穿隧 。 典型的技术是利用几个相邻的裸片微凸块形成输出 , 以保持阻抗 , 从而保持SerDes的传统裸片凸点的信号完整性 。 还有更多的微凸点 , 还有更多的微凸点形成一个更紧密的接地凸点桶 。。


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